今天小編來(lái)給大家分享一些關(guān)于半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)箱什么是冷熱沖擊測(cè)試 方面的知識(shí)吧,希望大家會(huì)喜歡哦
1、冷熱沖擊測(cè)試是一種評(píng)估產(chǎn)品對(duì)環(huán)境溫度快速變化適應(yīng)性的測(cè)試方法。定義冷熱沖擊試驗(yàn)又稱溫度沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)。它是將測(cè)試樣品交替暴露在低溫和高溫空氣(或適當(dāng)?shù)亩栊詺怏w)中,以評(píng)估產(chǎn)品對(duì)快速溫度變化的適應(yīng)性。
2、冷熱沖擊即高低溫沖擊測(cè)試,是將試驗(yàn)樣品暴露在高溫和低溫的連續(xù)交替環(huán)境中,使其在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷溫度急劇變化,考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性。冷熱沖擊測(cè)試是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn),在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
3、冷熱沖擊測(cè)試是一種環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試,其目的是通過(guò)在高溫和低溫之間快速切換,來(lái)檢驗(yàn)產(chǎn)品對(duì)溫度變化的耐受能力。這項(xiàng)測(cè)試對(duì)于確定產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否能夠承受實(shí)際使用中可能遇到的環(huán)境溫度變化至關(guān)重要,因此在裝備的設(shè)計(jì)鑒定和批量生產(chǎn)中占有重要地位,也常用于環(huán)境應(yīng)力篩選。
4、冷熱沖擊試驗(yàn)是一種環(huán)境可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估產(chǎn)品在快速溫度變化條件下的性能和可靠性。以下是對(duì)冷熱沖擊試驗(yàn)的詳細(xì)介紹,包括其常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試要求。
溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置;溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi),溫度變化率要大于50℃/分鐘。
溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的顯著差異在于其應(yīng)力負(fù)荷機(jī)制。前者主要關(guān)注因蠕變及疲勞損傷引發(fā)的失效,而后者則側(cè)重于因剪切疲勞導(dǎo)致的失效。溫度沖擊試驗(yàn)可選用二槽式試驗(yàn)裝置進(jìn)行;而溫度循環(huán)試驗(yàn)則通常使用單槽式裝置。在二槽式箱體內(nèi),溫度變化率需超過(guò)50℃/分鐘。
溫度循環(huán)試驗(yàn)和溫度沖擊試驗(yàn)是評(píng)估產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的可靠性和耐久性的重要測(cè)試方法。溫度循環(huán)試驗(yàn)溫度循環(huán)試驗(yàn)旨在模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度急劇變化的環(huán)境。這種試驗(yàn)通過(guò)一系列的高低溫循環(huán),以施加應(yīng)力于試件上,加速試件的老化因子,從而揭示產(chǎn)品在脆弱部分可能產(chǎn)生的損傷或失效。
高低溫冷熱沖擊箱和快速溫變?cè)囼?yàn)箱是不可共用的。有些用戶認(rèn)為冷熱沖擊試驗(yàn)箱與快速溫變箱在某些特定條件下可以共用,比如:溫度沖擊測(cè)試條件是-60℃~150℃,溫度恢復(fù)時(shí)間5min以內(nèi),高低溫駐留時(shí)間30min以內(nèi)。
1、綜上所述,PCT試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫高濕環(huán)境對(duì)人工智能芯片進(jìn)行加速壽命測(cè)試,以評(píng)估其可靠性。這一測(cè)試方法不僅縮短了測(cè)試周期,提高了研發(fā)效率,還能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決潛在的問(wèn)題,顯著提高產(chǎn)品的質(zhì)量。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,PCT試驗(yàn)箱在人工智能芯片的可靠性評(píng)估中將發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。
2、綜上所述,HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法涵蓋了多種溫濕度條件下的可靠性評(píng)估,通過(guò)不同的試驗(yàn)條件和目的,可以全面評(píng)估非氣密性封裝IC器件在濕度環(huán)境下的可靠性,為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。
3、HAST&PCT各標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)方法(上)JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏差壽命試驗(yàn)?zāi)康模哼M(jìn)行穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏差壽命測(cè)試是為了評(píng)估非密封封裝IC器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。應(yīng)用溫度、濕度和偏壓條件來(lái)加速濕氣透過(guò)外部保護(hù)材料(封裝或密封)或沿著外部保護(hù)材料和穿過(guò)它的金屬導(dǎo)體之間的界面的滲透。
1、冷熱沖擊試驗(yàn)箱的冷卻水塔是水冷式制冷系統(tǒng)的核心散熱組件,其作用是通過(guò)水與空氣的高效熱交換,將試驗(yàn)箱制冷過(guò)程中產(chǎn)生的熱量排出,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行。具體作用及原理如下:散熱降溫的核心功能冷熱沖擊試驗(yàn)箱因溫度變化劇烈,制冷功率遠(yuǎn)高于普通高低溫試驗(yàn)箱。風(fēng)冷方式難以滿足其散熱需求,因此需采用水冷式制冷系統(tǒng)。
2、冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
3、冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試復(fù)合材料或電子元器件等,快速溫變?cè)囼?yàn)箱適用于元器件級(jí)、組件級(jí)及設(shè)備級(jí)的測(cè)試。冷熱沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)內(nèi)部?jī)蓚€(gè)溫區(qū)進(jìn)行溫度沖擊,而快速溫變?cè)囼?yàn)箱則僅通過(guò)單一箱體實(shí)現(xiàn)溫度變化,速率較快。冷熱沖擊試驗(yàn)的溫度變化速率要求較高,在5分鐘內(nèi)完成溫到溫和溫到溫的轉(zhuǎn)換。
4、沖擊試驗(yàn)箱:通過(guò)開(kāi)關(guān)冷熱室的循環(huán)風(fēng)門(mén)或其它類似手段實(shí)現(xiàn)溫度轉(zhuǎn)換。這種方法更為自動(dòng)化,能夠更精確地控制溫度和時(shí)間。液體法實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式,將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。這種方法適用于玻璃-金屬密封及類似產(chǎn)品,但不適用于電器產(chǎn)品。
1、冷箱、熱箱獨(dú)立控制,箱門(mén)互相獨(dú)立,擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍(一箱三用)。產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。試驗(yàn)箱門(mén)與循環(huán)風(fēng)機(jī),提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖,保護(hù)操作者的安全,一旦打開(kāi)箱門(mén),循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。在箱頂有標(biāo)準(zhǔn)引線孔管,方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線,檢測(cè)電纜等類型引線。
2、冷熱沖擊試驗(yàn)有兩種主要方法:氣體法和液體法。氣體法手動(dòng)轉(zhuǎn)換:將產(chǎn)品在高溫箱和低溫箱之間進(jìn)行手動(dòng)轉(zhuǎn)換。沖擊試驗(yàn)箱:通過(guò)開(kāi)關(guān)冷熱室的循環(huán)風(fēng)門(mén)或其它類似手段實(shí)現(xiàn)溫度轉(zhuǎn)換。這種方法更為自動(dòng)化,能夠更精確地控制溫度和時(shí)間。液體法實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式,將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。
3、設(shè)定參數(shù):輸入低溫極限、高溫極限,每個(gè)溫段停留30分鐘,循環(huán)次數(shù)2-3次,溫變速率按設(shè)備上限設(shè)定。運(yùn)行:?jiǎn)?dòng)快速溫變程序,箱內(nèi)溫度快速切換,全程監(jiān)控試品是否出現(xiàn)異常(如變形、失效)。結(jié)束:試驗(yàn)結(jié)束后,試品隨箱回溫至室溫,檢測(cè)各項(xiàng)性能指標(biāo)是否達(dá)標(biāo)。
4、冷熱沖擊試驗(yàn)有氣體法和液體法兩種實(shí)現(xiàn)方式。氣體法包括手動(dòng)轉(zhuǎn)換產(chǎn)品在高溫箱和低溫箱之間,或使用沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)開(kāi)關(guān)冷熱室的循環(huán)風(fēng)門(mén)或類似手段實(shí)現(xiàn)溫度轉(zhuǎn)換。液體法則采用吊籃式,將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同溫度液體中,適用于玻璃-金屬密封及類似產(chǎn)品。
5、%至65%RH,地板冷熱循環(huán)試驗(yàn)是將低溫循環(huán)冷水送入地板下的地盤(pán)管,在試驗(yàn)-30攝氏度濕度是30%至65%RH,濕差是±5%RH。地板冷熱循環(huán)試驗(yàn)是降低地面溫度形成冷輻射面,通過(guò)地面以輻射和對(duì)流的方式向室內(nèi)供冷,達(dá)到舒適靜音的室內(nèi)制冷效果。
PCB冷熱沖擊試驗(yàn)是一種評(píng)估電路板在極端溫度條件下性能和可靠性的重要手段。試驗(yàn)方法主要分為氣體冷熱沖擊試驗(yàn)和液體冷熱沖擊試驗(yàn)兩種。氣體冷熱沖擊試驗(yàn)實(shí)現(xiàn)方式:手動(dòng)轉(zhuǎn)換:將電路板在高溫箱和低溫箱之間進(jìn)行手動(dòng)轉(zhuǎn)換,以模擬溫度的快速變化。沖擊試驗(yàn)箱:使用專門(mén)的沖擊試驗(yàn)箱,通過(guò)開(kāi)關(guān)冷熱室的循環(huán)風(fēng)門(mén)或其他類似手段,實(shí)現(xiàn)溫度的快速轉(zhuǎn)換。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T242GB/T10592-200GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)箱即溫度沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱,主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T242GB/T10592-200GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì).適用的對(duì)象包括電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
噴涂標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件:噴涂時(shí)環(huán)境溫度應(yīng)不低于16℃,相對(duì)濕度低于30%;若溫度過(guò)低,可先將PCB板在烘箱40℃加熱30分鐘后再噴涂,最佳使用溫度為30℃。清潔處理:噴涂前PCB板需經(jīng)過(guò)測(cè)試、檢驗(yàn)、調(diào)試合格,并徹底清潔焊錫、松香、灰塵、油污、助焊劑及其殘?jiān)?,以保證三防漆的附著效果。
冷箱、熱箱獨(dú)立控制,箱門(mén)互相獨(dú)立,擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍(一箱三用)。產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。試驗(yàn)箱門(mén)與循環(huán)風(fēng)機(jī),提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖,保護(hù)操作者的安全,一旦打開(kāi)箱門(mén),循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。在箱頂有標(biāo)準(zhǔn)引線孔管,方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線,檢測(cè)電纜等類型引線。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的。
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