1、粗糙度Rz：平均峰谷深度，它表示表面上相鄰峰和谷之間的距離，是衡量表面粗糙度的一個(gè)參數(shù)。 粗糙度Rp：最大輪廓波峰高度，它是指表面輪廓中的最高峰的高度，用來(lái)描述表面特征的最大尺寸。 粗糙度Rq：均方根粗糙度，它是指表面粗糙度的一種度量方式，通過(guò)計(jì)算表面高度波動(dòng)的均方根值來(lái)衡量表面的平滑程度。
1、表面粗糙度可以通過(guò)使用粗糙度測(cè)量?jī)x器來(lái)進(jìn)行測(cè)量。常用的粗糙度測(cè)量?jī)x器主要分為接觸式測(cè)量?jī)x和非接觸式測(cè)量?jī)x。這兩種方法都可以提供表面粗糙度的數(shù)值和圖像表示。接觸式測(cè)量粗糙度：接觸式測(cè)量?jī)x測(cè)量粗糙度是通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。
2、粗糙度儀，作為一種專(zhuān)門(mén)用于檢測(cè)物體表面粗糙度的儀器，具有多種別稱(chēng)，如表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測(cè)儀、粗糙度測(cè)量?jī)x、粗糙度計(jì)、粗糙度測(cè)試儀等。該儀器的主要特點(diǎn)包括：高精度與寬范圍：粗糙度儀能夠提供高精度的測(cè)量結(jié)果，并且適用于不同粗糙度范圍的表面檢測(cè)，滿(mǎn)足多樣化的測(cè)量需求。
3、接觸式測(cè)量粗糙度儀器是通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。當(dāng)機(jī)械探針接觸到被測(cè)表面時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)會(huì)記錄下機(jī)械探針的運(yùn)動(dòng)軌跡和力的變化。通過(guò)測(cè)量探針在表面上的運(yùn)動(dòng)和受到的力的變化，可以計(jì)算出表面的形貌參數(shù)。
4、白光干涉儀測(cè)量表面粗糙度：測(cè)量表面粗糙度，可以采用白光干涉儀進(jìn)行高精度測(cè)量。白光干涉儀是一種精密測(cè)量?jī)x器，能對(duì)物體表面的粗糙度/光潔度/潔凈度、輪廓、微觀三維形貌、PV值、臺(tái)階、高度、平面度、盲孔等進(jìn)行高精度測(cè)量。白光干涉儀AM系列的測(cè)量精度很高，精度可以達(dá)到亞納米級(jí)別。
5、針描法：這是一種接觸式表面粗糙度測(cè)量方法。電動(dòng)輪廓儀是最常用的設(shè)備，能夠直接顯示Ra值，適用于測(cè)量0.025至3微米的Ra值。 印摸法：在測(cè)量深孔、盲孔、凹槽或內(nèi)螺紋等難以直接測(cè)量或使用樣板比較的表面時(shí)使用。
6、測(cè)量納米級(jí)粗糙度的時(shí)候可以用現(xiàn)代先進(jìn)光學(xué)儀器-白光干涉儀。白光干涉儀又叫做非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀，是以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。
1、B型表面粗糙度測(cè)量?jī)x的主要技術(shù)指標(biāo)如下：垂直測(cè)量范圍：涵蓋4/40/400μm，確保對(duì)不同精度級(jí)別的表面進(jìn)行精確評(píng)估。測(cè)量精度：示值誤差控制在≤±5%以?xún)?nèi)，最小分辨力可達(dá)0.001μm，能夠捕捉到微小的表面變化。取樣長(zhǎng)度：多種選擇，包括0.08， 0.25， 0.8， 5， 和8mm。
2、光切法：通過(guò)雙管顯微鏡測(cè)量表面粗糙度，可用來(lái)評(píng)估Ry和Rz參數(shù)，測(cè)量范圍為0.5至50微米。 干涉法：基于光波干涉原理（如平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù)），通過(guò)干涉條紋圖形顯示被測(cè)表面的形狀誤差，并使用高倍數(shù)顯微鏡放大后進(jìn)行測(cè)量，以得出粗糙度值。
3、表面粗糙度的形成主要取決于加工過(guò)程、材料和工藝，例如電火花加工會(huì)留下凹凸痕跡。它對(duì)工件性能有顯著影響，如耐磨性、配合穩(wěn)定性、疲勞強(qiáng)度等。測(cè)量精度也受到取樣長(zhǎng)度（如0.08mm至8mm）、評(píng)價(jià)長(zhǎng)度（通常取5個(gè)基準(zhǔn)長(zhǎng)度）和基準(zhǔn)線選擇（最小二乘法或算術(shù)平均中線）的影響。
1、鄭州源測(cè)精密銷(xiāo)售的粗糙度儀提供了多種取樣長(zhǎng)度選項(xiàng)，包括0.08mm、0.25mm和0.8mm等。當(dāng)使用1mm的取樣長(zhǎng)度時(shí)，可以設(shè)定為0.25mm進(jìn)行測(cè)量。在此設(shè)置下，可以對(duì)高檔族的樣品進(jìn)行三次評(píng)價(jià)。
2、足夠了，鄭州源測(cè)精密銷(xiāo)售的粗糙度取樣長(zhǎng)度有0.08 0.25 0.8等等。
3、對(duì)于Ra，其測(cè)量范圍覆蓋了0.025到15微米，顯示范圍則限定在0.005到16微米之間。Rz、Ry、Rt、Rp、Rv和Rmax的測(cè)量范圍相對(duì)較大，從0.02到160微米，而RS和RSm的量程則固定在1毫米，Rmr則以%Rt表示，最大值為100%。Rsk的量程同樣為0-100%。
4、粗糙度儀的Z軸測(cè)量范圍通常較小，大約在1毫米左右，而便攜式設(shè)備則更小，大約在0.3毫米左右。 因此，當(dāng)設(shè)備顯示超出量程時(shí)，通常是因?yàn)楸粶y(cè)工件表面的起伏超過(guò)了儀器的測(cè)量限制，這種情況在曲面測(cè)量中尤為常見(jiàn)。
5、行程長(zhǎng)度：固定為6毫米。取樣長(zhǎng)度：提供多種選擇，包括0.25毫米、0.80毫米和50毫米，以適應(yīng)不同的測(cè)試需求。評(píng)定長(zhǎng)度：有25毫米和0毫米兩種，確保測(cè)量結(jié)果的精確度和穩(wěn)定性。精度：示值誤差為±15%，示值變動(dòng)性小于12%，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
1、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)塊的條件為 濾波0.8mm，測(cè)量長(zhǎng)度4mm 可以通過(guò)查看測(cè)量結(jié)果中的粗糙度曲線圖形了解測(cè)針情況，一般磨損的測(cè)針測(cè)量圖形會(huì)有缺口。如果測(cè)試結(jié)果還是一樣，表示該測(cè)針已磨損，需換新測(cè)針。東京精密粗糙度儀標(biāo)準(zhǔn)塊都標(biāo)配一塊面板（Ra 0.4左右）可以檢測(cè)測(cè)針的磨損情況，不知道你們用的什么品牌。
1、檢測(cè)表面粗糙度的儀器有接觸式和非接觸式。接觸式測(cè)量 接觸式測(cè)量粗糙度儀器是通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。當(dāng)機(jī)械探針接觸到被測(cè)表面時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)會(huì)記錄下機(jī)械探針的運(yùn)動(dòng)軌跡和力的變化。通過(guò)測(cè)量探針在表面上的運(yùn)動(dòng)和受到的力的變化，可以計(jì)算出表面的形貌參數(shù)。
2、表面粗糙度可以通過(guò)使用粗糙度測(cè)量?jī)x器來(lái)進(jìn)行測(cè)量。常用的粗糙度測(cè)量?jī)x器主要分為接觸式測(cè)量?jī)x和非接觸式測(cè)量?jī)x。這兩種方法都可以提供表面粗糙度的數(shù)值和圖像表示。接觸式測(cè)量粗糙度：接觸式測(cè)量?jī)x測(cè)量粗糙度是通過(guò)機(jī)械探針與被測(cè)物體表面接觸來(lái)進(jìn)行測(cè)量的。
3、表面粗糙度通常使用粗糙度儀進(jìn)行測(cè)量。粗糙度儀，作為一種專(zhuān)門(mén)用于檢測(cè)物體表面粗糙度的儀器，具有多種別稱(chēng)，如表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測(cè)儀、粗糙度測(cè)量?jī)x、粗糙度計(jì)、粗糙度測(cè)試儀等。
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