表面清潔度:測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

金屬測厚儀的工作原理基于X射線的特性,采用小型空氣冷卻的高功率X射線管球,其核心組件為Mo靶,工作在50kV的管電壓和5mA的管電流條件下,配備有Be窗口進(jìn)行輻射控制。一次濾波器使用Mo,而二次濾波器則自動切換至Co,確保了X射線的精準(zhǔn)投射。測厚儀采用上方垂直照射方式,確保測量的準(zhǔn)確性。
金屬測厚儀的主要技術(shù)參數(shù)包括: 工作原理:基于X射線的特性,采用小型空氣冷卻的高功率X射線管球,核心組件為Mo靶,工作在50kV的管電壓和5mA的管電流條件下。 濾波器:一次濾波器使用Mo,二次濾波器自動切換至Co,確保X射線的精準(zhǔn)投射。 檢測器:采用比例計數(shù)管,確保對X射線的敏感度和精確測量。
XRF鍍層測厚儀是一種基于X射線熒光原理的涂層厚度測量儀器。如下圖:其基本原理如下:X射線發(fā)射:XRF鍍層測厚儀內(nèi)置的X射線源發(fā)射X射線,X射線穿過待測涂層并作用于樣品下方的探測器。X射線熒光反應(yīng):樣品表面的涂層對X射線產(chǎn)生熒光反應(yīng),釋放出特征X射線,特征X射線能量與涂層材料相關(guān)。
第一步:完成零點(diǎn)校準(zhǔn)(同上)。第二步:使用厚度接近待測鍍層的標(biāo)準(zhǔn)片(如127μm)測量,按“▲/▼”鍵調(diào)整示值至標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值。高端修正(可選):若高端數(shù)據(jù)(如420μm)偏差較大,進(jìn)入“Ln”模式調(diào)整參數(shù)(每+0.001對應(yīng)減小2μm),再按確認(rèn)鍵。
測量范圍根據(jù)型號有所不同,例如,型號FNF1/90的測厚范圍是0~1250μm,F(xiàn)400和N400的范圍為0~400μm,而F10的范圍則為0~10000μm。測量誤差在不同模式下有所控制,如F1和N1模式的誤差范圍為2%H+1,校準(zhǔn)精度為1%。OU3600B型號具有電腦連接功能,便于數(shù)據(jù)傳輸,而OU3600A則不具備。
操作環(huán)境與設(shè)備建議 理想情況下(基體平整、鍍層均勻且儀器經(jīng)過校準(zhǔn)),漆膜儀的誤差范圍可控制在5%以內(nèi)。若需要工業(yè)級高精度測量(如質(zhì)檢認(rèn)證),更推薦使用X射線熒光測厚儀等設(shè)備,其精度通??蛇_(dá)±0.1μm。
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